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번tmp (Burn-in)프로세스

번(Burn-in)이란?

번인(老化)은고장을감지하고신뢰성을보장하기위해정상사용전에전자부품에수행하는프로세스입니다。전자제품에파워서플라이를연결하고높은온도에서몇시간연속가동하는방식으로수행합니다。

PDF다운로드:게이트드라이버번通讯录(Burn-in)

반도체의일반적수명과고장률은욕조모양의곡선(浴缸曲线)으로가장잘설명할수있습니다。작동수명초기단계에많은고장이발생합니다(초기고장)。테스트중에온도를높이면고장메커니즘이가속화되어초기장치고장을없앨수있습니다。

파워인테그레이션스(功率集成)게이트드라이버제품100000은시간이상의작동수명으로까다로운애플리케이션을지원합니다。공장번인프로세스는비용이많이들수있는손상을방지하고총소유비용을줄이며생산을간소화합니다。

번tmp (Burn-in)프로파일

  • 100%생산테스트
  • 번端面(Burn-in)사이클23시간
  • -40~+85°c에서3사이클(258분)
  • 85°c에서방치시간1092분
  • 25°c에서오프타임30분
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주특징

  • 사내솔루션으로한문제제거
  • 전문하청업체의필성제거
  • 최대15ppm까지고장률감소
  • 번端面(Burn-in)으로보端面연장가능

응용 분야

  • 업무수행에필수적고신뢰성시스템
  • 운송
  • 발전및송전